激光粒度儀和顆粒圖像儀有何區別？

　　激光粒度儀和顆粒圖像儀有什么區別？
 

　　粒度儀可分為納米粒度儀，激光粒度儀，單顆粒光阻法粒度儀和圖像粒度儀等。
 

　　粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學(xué)顆粒計數器、電阻式顆粒計數器、顆粒圖像分析儀等。
 

　　粒度儀分類(lèi)介紹：
 

　　激光粒度儀
 

　　采用MIE散射原理的激光粒度儀，假設被測顆粒為標準球形，無(wú)法測量顆粒形貌，多為離線(xiàn)粒度儀。
 

　　采用MIE散射原理的激光粒度儀由自主研發(fā)的會(huì )聚光傅立葉變換光路和無(wú)約束自由擬合是數據處理軟件組成，可檢測顆粒大小及分布，覆蓋了毫米、微米、亞微米及納米多個(gè)波段。
 

　　其測試顆粒大小及分布時(shí)采用的分散系統根據不同的測試要求分為濕法分散系統、干法分散系統和干濕一體分散系統。
 

　　當光線(xiàn)照射到顆粒上時(shí)會(huì )發(fā)生散射、衍射，其衍射、散射光強度均與粒子的大小有關(guān)。觀(guān)測其光強度，可應用Fraunhofer衍射理論和Mie散射理論求得粒子徑分布(激光衍射/散射法)，使用Mie散射理論進(jìn)行計算。光入射到球形粒子時(shí)可產(chǎn)生三類(lèi)光：一類(lèi)，在粒子表面、通過(guò)粒子內部、經(jīng)粒子內表面的反射光；第二類(lèi)，通過(guò)粒子內部而折射出的光；第三類(lèi)，在表面的衍射光。這些現象與粒子的大小無(wú)關(guān)，全都可以作為光散射處理。
 

　　一般地，光散射現象可以用經(jīng)Maxwell電磁方程式嚴密解出的Mie散射理論說(shuō)明。但是，實(shí)際使用起來(lái)過(guò)于復雜，為了求得實(shí)際的光強度，可根據入射波長(cháng)λ和粒子半徑r的關(guān)系，即：rλ時(shí)，Fraunhofer衍射理論。在使用上述理論時(shí)，應考慮到光的波長(cháng)和粒徑的關(guān)系，在不同的領(lǐng)域使用不同的理論。
 

　　粒徑大于波長(cháng)的時(shí)候，由Fraunhofer衍射理論求得的衍射光強度和Mie散射理論求得的散射光強度大體是一致的。因此，可以把Fraunhofer衍射理論作為Mie散射理論的近似處理。這時(shí)，光散射(衍射)的方向幾乎都集中在前方，其強度與粒子徑的大小有關(guān)，有很大的變化。即表示粒子徑固有的光強度譜，解出粒子的光強度分布(散射譜)就可以定出粒子徑。當波長(cháng)和粒子徑很接近的時(shí)候，不能用Fraunhofer的近似式來(lái)表示散射強度。這時(shí)有必要根據Mie散射理論作進(jìn)一步討論。在Mie散射中的散射光強度由入射光波長(cháng)、粒子徑、粒子和介質(zhì)的相對折射率來(lái)確定。
 

　　顆粒圖像儀：
 

　　對顆粒拍照后將圖片分析處理，可以測量顆粒形貌，通過(guò)此方法可實(shí)現原位實(shí)時(shí)在線(xiàn)測量。
 

　　顆粒圖像儀擁有靜態(tài)、動(dòng)態(tài)兩種測試方法。
 

　　靜態(tài)方式使用改裝的顯微鏡系統，配合高清晰攝像機，將顆粒樣品的圖像直觀(guān)的反映到電腦屏幕上，配合相關(guān)的計算機軟件可進(jìn)行顆粒大小、形狀、整體分布等屬性的計算，并可以將測試結果輸出為報告。
 

　　動(dòng)態(tài)方式具有形貌和粒徑分布雙重分析能力。重建了全新循環(huán)分散系統和軟件數據處理模塊，解決了靜態(tài)顆粒圖像儀的制樣繁瑣、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷。