粒度分析儀在測量中應該注意的事項

　　粒度分析儀在測量中應該注意哪些呢：
 

　　不同粒度分析儀技術(shù)的局限性：不同粒度分析技術(shù)都受其測量原理限制.如光衍射法不能測量小于光源自然線(xiàn)寬的顆粒;沉降法則既受制于大尺寸端亂流的影響，又受小尺寸端擴散(布朗運動(dòng))的限制。一些測量?jì)x器也會(huì )因制作和操作規程帶來(lái)一定限制。有時(shí)測量技術(shù)還對測量樣品的準備提出限制，PCS測量必須使顆粒懸浮，電鏡制樣要求優(yōu)良分散。因此，了解測量技術(shù)的局限性和嚴格滿(mǎn)足其限制要求.對獲取正確測量結果非常必要。
 

　　測量基準：不同粒度分析儀技術(shù)的原理不同，原信息源和計量目標不同。例如光衍射法的原信息源是散射光強度，要求防止細顆粒中少數大顆粒對信息源的支配.電敏技術(shù)則按顆體積計數，因此各方法的基準不同，彼此不能簡(jiǎn)單歸一同比。所以必須強調數據轉化因基準不同會(huì )帶來(lái)明顯的誤差。
 

　　分離顆粒的能力與粒度測試技術(shù)選擇：依據對顆粒的分離能力.可將測量顆粒的技術(shù)分為單顆粒計數、顆粒分級和整體平均結果三類(lèi)。圖像分析、顯微鏡是典型的單顆粒技術(shù)方法；分級方法包括篩分、沉降、離心和顆粒色譜等；整體平均的粒度分析方法，從收集到的所有測量顆粒產(chǎn)生信號的總和計算粒度分析，即測量結果由解析得到，是被測顆粒整體的平均，因此易于實(shí)現自動(dòng)化和在線(xiàn)分析，但分辨率較低。用于催化劑工業(yè)生產(chǎn)的顆粒分析儀選擇整體平均的方法，實(shí)驗室研究多數情況希望獲得單顆粒技術(shù)與外貌信息，分級方法的選擇，應當結合測量顆粒性質(zhì)與測量方式考慮。
 

　　粒度分析儀的信息與技術(shù)指標要求：粒度分析儀的信息要求.是指給出結果的表達方式.可以是平均粒徑、累加頻率值、正態(tài)分布、分布寬度.也可用對數正態(tài)分布、非對稱(chēng)分布寬度、多峰分布的各峰相對量，以及累加頻率的不同名義(如顆粒數、體積、面積等)表達。催化劑粒度分析zui有用的信息是平均粒徑和粒徑的顆粒數分布。