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ZETA電位分析儀的操作流程與注意事項如下：操作流程：樣品準備：選擇適當的樣品進(jìn)行測試，并根據需要將其稀釋到適當的濃度。確保樣品溶液均勻混合，并盡量避免產(chǎn)生氣泡或顆粒物。儀器設置：按照Z(yǔ)eta電位分析儀的說(shuō)明書(shū)，正確設置儀器參數。這包括電解池的尺寸、電極類(lèi)型、溫度和測量范圍等。確保所有的設置都與實(shí)際情況相符。校準儀器：在開(kāi)始實(shí)際測試之前，應該進(jìn)行儀器的校準。......
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納米激光粒度儀的特點(diǎn)是測試速度快、測試范圍廣、它可以在從納米到微米這樣寬的范圍內停止粒度分布，不僅可以測量固體顆粒，還可以測量液體中的顆粒。與傳統方法相比，儀器的測量過(guò)程不受溫度變化、介質(zhì)粘度、樣品密度和外觀(guān)狀態(tài)等多種因素的影響。只有將待測樣品均勻地顯示在激光束中，激光粒度儀才能給出準確可靠的測量結果。納米激光粒度儀是......
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ZETA電位分析儀是一款新型的、多用途分析儀，是采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及FST技術(shù)來(lái)分析的麥克默瑞提克納米粒度儀和zeta電位一體機，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術(shù)，可同時(shí)滿(mǎn)足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求，濃度范圍由0、001%到......
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不溶性微粒（英文名：Sub-visibleParticle/Particulatematter）與可見(jiàn)異物（VisibleParticle）相對應，意指不溶于水和有機溶劑，非代謝性的，肉眼所看不見(jiàn)的顆粒物。一般指的是粒徑＜50μm的微粒。不溶性微粒檢查，藥典規定了兩種方法，第一法是光阻法，第二法是顯微計數法。光阻法收錄......
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光阻法粒度儀一般是由激光器、透鏡、光電接收器陣列、信號轉換與傳輸系統、樣品分散系統、數據處理系統等組成。激光器發(fā)出的激光束，經(jīng)濾波、擴束、準直后變成一束平行光，在該平行光束沒(méi)有照射到顆粒的情況下，光束經(jīng)過(guò)透鏡后將其匯聚到焦點(diǎn)上。當通過(guò)某種特定的方式把顆粒均勻地放置到平行光束路徑中時(shí)，激光束經(jīng)過(guò)顆粒時(shí)將發(fā)生衍射或散射現象......
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