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  • 審計最終粒度儀
    審計最終粒度儀：專(zhuān)為復雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm-10.0μm。
    更新時(shí)間：2024-05-15型號：
    現在聯(lián)系
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